检测要求：

     在显示面板的检测中，常通过线路中导电粒子的数量与均匀性检测来实现导电性的自动检测。分布更均匀的导电粒子导电稳定性更强，分布不均则可能出现一部分区域电路连通性差，另一区域却出现短路状况。因此需要做好严格的视觉检测，确保产品的品质。

     导电粒子的粒径微小，传统的人工目检操作复杂、成本高，易受操作人员主观影响，无法满足高精度检测要求。而且检测时并不是直接观测导电粒子单体，而是检测面板下被热压合后的导电粒子，难度更加升级。

     自动化光学检测系统具有非接触性、操作简单，量测速度快等优势，但是市面上光学配件种类多样，应该如何搭配才能满足检测要求呢？

     检测方案：

     采用普密斯（DIC）微分干涉系统可以呈现立体浮雕效果，能够捕捉面板上微小的凸起，结合同轴光谱镜头可以瞬间自动对焦，实现高数值孔径观察，满足高分辨率检测要求。采用模块化设计，可在保证性能的同时，兼容其他镜头、光源的搭配，增强使用场景的灵活性，满足检测需求的多样性。

     检测效果：