随着科技的不断发展，折叠屏手机逐渐成为市场的新宠。折叠屏手机的折叠处是最脆弱的部分，需要采用高精度的测量技术来保证其质量和可靠性。Metric多元传感器测量系统作为一种高精度的三维测量设备，在折叠屏中框测量中具有广泛的应用前景。

Metric多元传感器测量系统是一种基于光学原理的高精度三维测量设备，它可以快速、准确地测量物体的三维轮廓和表面特征。该仪器采用了先进的光学技术和高精度传感器，能够实现高精度、高速度、高灵活性的测量。

Metric多元传感器测量系统在折叠屏中框测量中的应用

1. 中框厚度测量：测量折叠屏中框的厚度，确保中框的厚度符合设计要求。

2. 中框平面度测量：测量折叠屏中框的平面度，确保中框的表面平整，避免出现凹凸不平的情况。 

3. 中框轮廓测量：测量折叠屏中框的轮廓，确保中框的形状和尺寸符合设计要求。 

4. 中框与屏幕的贴合度测量：测量折叠屏中框与屏幕的贴合度，确保中框与屏幕之间的间隙符合设计要求。 

Metric多元传感器测量系统的优势

1、高精度：测量精度高达 0.01mm，可以满足折叠屏中框的高精度测量需求。 

2、高速度：测量系统的测量速度快，可以实现快速、高效的测量。

3、高灵活性：支持多种测量模式和数据输出格式，可以根据不同的测量需求进行灵活配置和调整。 

4、高稳定性：采用了高品质的材料和先进的制造工艺，仪器稳定性高，使用寿命长。 

普密斯Metric多元传感器测量系统作为一种高精度的三维测量设备，在折叠屏中框测量中具有广泛的应用前景。它可以实现中框厚度、平面度、轮廓和与屏幕的贴合度等多种参数的测量，确保中框的质量和可靠性。随着折叠屏手机的不断发展，普密斯Metric多元传感器测量系统将在折叠屏中框测量中发挥越来越重要的作用。