Focus激光自动对焦检测原理主要基于激光测距和自动对焦技术。下面将详细解释这两个核心原理。
 

激光测距原理：
 

Focus激光自动对焦显微系统首先会发射一束激光到待检测的LED芯片表面。当激光接触到芯片表面后，部分光会按照“入射角等于反射角”的光学原理反射回来。系统内部的传感器会捕捉这些反射回来的激光。接着，系统会测量激光从发射到接收反射光的时间差。由于光速是已知的，系统可以通过这个时间差计算出激光与芯片表面之间的距离。这个距离信息对于后续确定镜头的对焦位置至关重要，它直接决定了成像的清晰度。
 

自动对焦原理：
 

自动对焦技术是实现高精度检测的关键。在Focus系统中，自动对焦是通过实时调整镜头的位置来实现的。当系统通过激光测距获得与芯片表面的距离后，会根据这个距离信息调整镜头的位置，确保镜头始终处于最佳对焦状态。这样，无论芯片表面的位置如何变化，系统都能迅速而准确地调整镜头，保持清晰成像。
 

自动对焦过程中，系统会根据测得的距离信息计算出镜头需要移动的距离和方向，然后通过驱动机构（如步进电机）精确地控制镜头的移动。这个过程是实时的，即系统会在检测过程中不断调整镜头位置，以保持对焦状态。
 

普密斯Focus激光自动对焦检测原理结合了激光测距和自动对焦技术，实现了对LED芯片的高精度、高效率检测。这种原理不仅提高了检测的准确性，还大大提高了检测速度，使得大规模、高速度的LED芯片检测成为可能。