检测需求：

半导体行业中，对半导体芯片的精度要求越来越高，需要检测产品表面缺陷、尺寸及形状，产品质量直接关系到电子设备的可靠性和性能。

常见的缺陷包括划痕、崩边、异物等，这些缺陷可能影响芯片的电气特性，甚至导致产品失效。因此，及时发现并纠正这些缺陷对于提高产品良率至关重要。



观测细微缺陷的镜头技术：

为了观测到细微的缺陷，需要使用高清镜头。高清镜头能够提供清晰的图像，使得检测人员能够准确地识别出微小的缺陷。此外，高清镜头还具备高对比度和宽光谱响应，有助于在不同光照条件下进行检测。

普密斯FA镜头的优势：

1. 高分辨率：普密斯FA镜头提供高分辨率图像，确保即使是最微小的缺陷也能被检测出来。
 

2. 高对比度：增强图像的对比度，使得缺陷与周围环境的区分更加明显。
 

3. 宽光谱响应：适应多种光源，确保在不同环境下都能保持图像质量。
 

4. 耐用性：设计用于工业环境，具有高耐用性和稳定性。
 

普密斯FA镜头在实际半导体检测中能够有效提高缺陷检测的准确性和效率，通过方案硬件组合与先进的图像处理软件相结合，普密斯FA镜头能够实现自动化的缺陷识别、尺寸及形状。