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光谱共焦传感器应用铜片厚度测量
2024.10.14

在机器视觉领域,光谱共焦传感器展现出多种卓越的测量优势,因而能够广泛应用于各类测量方案之中。

 

 

当涉及到铜片厚度测量时,双光谱共焦传感器发挥着关键作用。它与光谱控制盒相互配合,能够以极高的效率快速测量产品厚度。

 

 

光谱共焦传感器测量铜片优势:

 

 

1、非接触式测量:光谱共焦传感器具有非接触式测量的特点,在测量铜片厚度时不会对铜片造成任何损伤,确保了产品的完整性;

 

2、高精度测量:光谱共焦传感器高精度的测量能力可以精确到微米级别,能够满足铜片厚度测量对精度的严格要求;

 

3、快速响应:光谱共焦传感器具有快速响应的优势,能够在短时间内完成对铜片厚度的测量,大大提高了生产效率。

 

 

无论是在铜片的生产过程中还是质量检测环节,光谱共焦传感器都能为准确测量铜片厚度提供可靠的技术支持。


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