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4K变倍镜头应用案例-半导体缺陷检测
2020.11.17

半导体芯片表面会印刷厂商、序列号、产品规格等字符,这些字符对芯片制造有重要意义,所以对芯片的规范有严格的要求,需要对字符进行检测,避免出现字符缺失等影响。


由于芯片上字符较小,要清晰识别字符对镜头分辨率要求较高。且检测过程要求自动化识别,高速检测,拍照速率要求0.3s/pcs,一般的相机很难达到要求。


解决方案:


①相机使用普密斯高清CCD工业相机,高速飞拍,稳定传输不丢帧,实现高效自动化视觉识别。


②镜头使用普密斯4K变倍镜头,普密斯4K镜头相比传统工业镜头,相同视野下倍率可提升1.45X以上,4K级别大视野成像,满足高清晰字符成像要求。


③搭载普密斯外置同轴光源,高强度均匀光照射,清晰成像观测,便于自动化字符缺陷识别。

芯片字符缺失.png


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