光谱共焦位移传感器凭借其亚微米级精度、非接触测量、高速响应及多材质适应性，在精密制造领域已形成多个标杆性应用案例。

案例一：手机面板厚度测量——突破传统精度极限

行业痛点：高端智能手机显示屏对厚度均匀性要求极高（误差需控制在±1μm内），传统接触式测量易划伤面板，激光三角法易受环境光干扰。
解决方案：普密斯点光谱共焦传感器（如SFS-D8040）通过40mm最近测量距离与7mm量程设计，实现非接触式亚微米级测量。在某头部手机厂商生产线中，该传感器可20秒/片完成曲面玻璃面板厚度检测，测量重复性达±0.5μm，良品率提升12%。
技术优势：

• 抗环境干扰：数值孔径0.31，弱光条件下仍可稳定捕捉反射光谱；

• 动态补偿算法：自动修正材料折射率差异，透明/反光表面测量误差≤0.005mm。

案例二：锂电池极片厚度控制——保障电池安全性

行业痛点：锂电池极片厚度波动超过±2μm会导致电池容量不一致，甚至引发短路风险。传统β射线测厚仪存在辐射安全隐患。
解决方案：普密斯SFS-D8022传感器搭配SFS-C8001控制器，通过模拟量输出集成至自动化生产线，实现实时在线测量。在某新能源企业应用中，该系统可0.1秒/点扫描极片表面，厚度控制精度达±0.8μm，隔膜厚度检测一致性提升95%。
技术优势：

• 非接触测量：避免极片表面涂层损伤；

• 三维形貌分析：CCS VR1.0.2.4软件支持极片表面波纹度分析，优化涂布工艺。

案例三：光学镜片中心厚度检测——破解透明材质测量难题

行业痛点：传统千分尺测量光学镜片易产生压痕，激光干涉仪对表面平整度要求苛刻。
解决方案：普密斯光谱共焦传感器利用光谱色散原理，通过分析反射光波长峰值定位镜片表面。在某精密光学企业案例中，该传感器可无损测量直径69mm、厚度1-4mm的镜片，中心厚度测量精度达±5μm，曲率半径测量重复性≤0.01mm。
技术优势：

• 多波长融合技术：消除透明材料双表面反射干扰；

• 宽光线角设计：±20.2°接收角适应复杂曲面测量。

案例四：弧形金属件形貌扫描——重塑非接触测量标准

行业痛点：传统接触式测头难以准确捕捉弧形表面微小变化，激光测距仪在金属高反光表面易产生散斑噪声。
解决方案：普密斯传感器通过三维精细扫描机构与光谱共焦技术结合，生成弧形金属件高精度三维轮廓图。在某汽车零部件厂商应用中，该方案可检测发动机叶片边缘圆角半径（R0.2-R1mm），测量重复性达±0.3μm，检测效率提升3倍。
技术优势：

• 非接触无损检测：避免金属表面划伤；

• 亚微米级分辨率：支持微米级形貌特征识别。

选择普密斯的三大核心价值

1. 技术迭代保障：年均3次产品升级，支持软件免费迭代与标定曲线优化；

2. 全场景适配能力：从微电子芯片到汽车大型零部件，提供定制化探头与集成方案；

3. 服务响应效率：国内建立8大区域服务中心，承诺4小时快速响应与24小时备件到达。