在智能制造与工业领域中，精准、高效、智能的检测技术已成为推动产业升级的核心驱动力。普密斯全新推出的光谱共焦传感器SFS-D8040，搭配SFS-C8000光谱控制器与CCS智能软件平台，以40mm工作距离、240mm测厚能力，以及卓越的集成性与多功能性，为自动化检测领域树立了全新标杆，助力企业解锁更高效、更智能的生产模式。
核心优势：精准、高效、全能
1、超长工作距离与测厚范围
SFS-D8040突破传统技术瓶颈，实现40mm工作距离下的稳定测量，同时支持240mm厚度检测，无论是微小电子元件的高度测量，还是大型工件的厚度分析，均能轻松应对。其非接触式测量原理，避免了物理接触对工件的损伤，尤其适用于精密加工、半导体、新能源等高精度场景
2、多维度检测能力
① 高度测量：纳米级精度，精准捕捉工件表面微小起伏。
② 厚度检测：实时反馈材料厚度数据，保障产品质量一致性。
③ 轮廓扫描：快速生成工件三维轮廓图，助力工艺优化与缺陷分析。
3、无缝集成自动化设备
SFS-D8040采用标准化接口设计，可轻松嵌入机器人手臂、自动化产线等系统，与PLC、MES等工业软件无缝对接，实现全流程自动化检测，大幅提升生产效率与数据追溯能力。
4、黄金搭档：SFS-C8000控制器+CCS软件
① SFS-C8000光谱控制器：作为传感器的“智慧大脑”，提供高速数据处理与稳定信号输出，支持多传感器协同作业，满足复杂场景下的并行检测需求。
② CCS智能软件平台：用户友好的界面设计，支持实时数据可视化、历史记录追溯与深度分析。通过AI算法优化测量参数，自动生成检测报告，助力企业实现检测流程的数字化与智能化。
5、应用场景：赋能千行百业
- 精密制造：半导体晶圆厚度检测、光学元件表面形貌分析。
- 新能源：电池极片厚度监控、隔膜涂层均匀性检测。
- 汽车工业：零部件尺寸公差控制、焊接质量在线检测。
- 3C电子：手机屏幕玻璃平整度测量、PCB板层厚分析。
为何选择普密斯SFS-D8040？
- 技术领先：基于光谱共焦原理，抗环境光干扰能力强，测量稳定性远超传统传感器。
- 灵活扩展：模块化设计支持定制化配置，适配不同行业检测需求。
- 降本增效：减少人工复检环节，降低次品率，缩短生产周期，综合成本节约显著。
普密斯光谱共焦传感器SFS-D8040，以技术创新重新定义自动化检测边界。无论是追求极致精度的科研实验室，还是追求高效产能的智能制造工厂，SFS-D8040都将成为您值得信赖的“检测利器”。
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