4K线扫工业镜头系列：高速高精检测镜头-普密斯

4K线扫工业镜头系列：高速高精检测镜头

2025/05/07

作者:adminBOSS

在工业自动化与机器视觉技术飞速发展的今天，高精度、高效率的检测设备已成为保障产品质量的核心竞争力。普密斯LL4K线扫工业镜头系列凭借其大靶面设计、超低畸变、防震功能及宽泛的基准倍率覆盖，成为半导体、显示面板、新能源等领域的理想之选，为高速高精度检测场景提供一站式解决方案。

大靶面设计，覆盖多元场景

VPLL4K系列采用φ32mm-φ82mm大靶面设计，可适配多种传感器尺寸，显著提升有效成像区域，减少拼接需求，尤其适用于大尺寸晶圆、LCD面板等广域检测场景。结合7μm高分辨率与<0.1%超低畸变技术，确保图像边缘至中心均保持高清晰度与几何一致性，为微米级缺陷识别提供可靠数据基础。

高速稳定，适配严苛产线

针对高速生产线需求，该系列支持0.015X-3.5X基准倍率灵活调节，覆盖从宏观定位到微观细节分析的全流程检测。其防震设计与共轭距优化（最高达2182mm）有效抑制机械振动干扰，即使在高速运动中仍能保持图像稳定，满足半导体晶圆、OLED蒸镀工艺等对实时性要求极高的应用。

智能集成，降低部署成本

模块化设计支持与同轴光源、工业相机无缝集成，提供M42/M72/F口等多接口选择，简化系统搭建流程。搭配普密斯自研视觉算法，可实现缺陷自动分类、尺寸测量等功能，显著降低客户后期维护与升级成本。

4K线扫镜头可以应用在半导体晶圆缺陷检测；OLED前段制程检测；LCD/TFT表面缺陷分析等检测方案中。

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