SFS-D8012是普密斯一款高性能的光谱共焦传感器光学探头，专为高精度、非接触式测量而设计。它集成了先进的光学技术和精密的信号处理算法，能够在广泛的工业应用中提供稳定、可靠的测量结果。SFS-D8012以其卓越的测量性能和广泛的应用兼容性，成为机加工制造业、电子业、面板及玻璃加工、半导体及新能源等多个领域的理想选择。
核心参数：
- 最近测量距离：12mm。这一设计使得传感器能够在不接触被测物体的前提下，从较近的距离开始进行有效测量，适用于空间受限或需要近距离精确测量的场景。
- 测量范围：1mm。在此范围内，SFS-D8012能够提供极高的测量精度，满足对微小尺寸变化或高度差异进行精确捕捉的需求。
- 最大光线角：±29.3°。这一参数反映了传感器光学系统的视野范围，确保了在不同角度下都能获得准确的测量数据。
- N.A.（数值孔径）：0.49。高数值孔径意味着传感器能够收集更多的光线信息，从而提高测量的灵敏度和分辨率。
- 最大线性误差：±0.2um。这一极低的误差水平确保了测量结果的极高准确性，对于精密制造和质量控制至关重要。
系统配置：
- 搭配控制器：SFS-C8001。该控制器与SFS-D8012光学探头无缝对接，提供稳定的数据传输和高效的测量控制，确保整个测量系统的稳定运行。
- 配套软件：CCS VR1.0.2.4。通过此软件，用户可以方便地进行测量参数设置、数据收集、分析和报告生成等操作，极大提高了工作效率和测量数据的利用率。
应用领域
- 手机、平板、电脑等金属机壳机加制造业：在金属机壳的加工过程中，SFS-D8012能够精确测量表面平整度、厚度等关键尺寸，确保产品质量符合设计要求。
- PCB板、连接器、IC芯片等电子业：在电子元件的生产和检测中，传感器能够高效检测微小尺寸变化和高度差异，助力提升生产效率和产品良率。
- 面板、玻璃、钢化膜等行业：在平板显示、建筑玻璃、手机屏幕等产品的加工和检测中，SFS-D8012能够提供精确的非接触式测量解决方案，确保产品质量的稳定性和一致性。
- 半导体晶圆、新能源、光伏等行业：在高科技制造领域，传感器的高精度和可靠性使其成为半导体晶圆检测、新能源材料厚度测量、光伏电池板质量检测等应用中的理想选择。
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