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SFS-D8055

普密斯SFS-D8055彩色光谱共焦位移传感器不但精度高于传统三角测距传感器,量测不同材质或不同形貌时亦能获得稳定一致结果。

SFS-D8055彩色光谱共焦位移传感器

 

产品简介

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       普密斯SFS-D8055彩色光谱共焦位移传感器不但精度高于传统三角测距传感器,量测不同材质或不同形貌时亦能获得稳定一致结果。

 

 

产品介紹

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1、稳定量测各类材质,例如金属/陶瓷/镜面/玻璃等;

2、高温高压等严苛操作条件下亦能正常使用;

3、测头结构轻巧,易整合于各行业之自动化测量应用;

4、适用于各种工件形貌(包含深孔/斜面/弧面)之特征尺寸量测,例如高度/段差/厚度/平面度/轮廓度等;

 

 

产品应用

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1.手机,平板,电脑等金属机壳机加制造业;

2.PCB板,连接器,IC芯片等电子业;

3.面板,玻璃,钢化膜等行业;

4.半导体晶圆,绿能,光伏等行业。

 

 

应用领域

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广泛应用于电子、半导体、面板、设备等行业。测量高度、段差、厚度、平面度,玻璃、陶瓷、镜面金属的轮廓,如手机、PCB、钢化玻璃屏幕保护膜、半导体晶片。

 

 

产品尺寸展示 

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产品参数展示 

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