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SFS-C8000D光谱控制盒

普密斯SFS-C8000D光谱控制盒,丰富的应用功能,支持多种测量模式,可配功能全面的PC测量软件,拥有双通道 , 可对射测厚

SFS-C8000D光谱控制盒

 

功能介绍

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控制器介绍

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1、支持3D表面形貌测量
2、非透明样品厚度测量
3、支持模拟量输出
4、独立的双光纤通道,同时支持2个测头测量

 

 

控制器优势

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1. 丰富的应用功能,支持多种测量模式,可配功能全面的PC测量软件
2. 优秀的光学设计,线性度比市场同类都好
3. 分轴式编码器位置锁存,响应速度快且准确度高
4. 支持多通道,一配多个测头,减少成本

 

 

控制器特点

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◆ 双通道
◆ XYZ光栅
◆ 支持扫点云
◆ 对射测厚
◆ 模拟输出(无缝对接压电促动)
◆ 支持1~2路电机梯形加减速控制

 

 

 

控制盒参数

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