产品简介
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普密斯光谱对焦测厚系统，双光谱相比单向测量精度更高，稳定量测各类材质，测头结构轻巧，易整合于各行业之自动化测量应用
产品优势
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1、稳定量测各类材质,例如金属/陶瓷/镜面/玻璃等；
2、适用于各种工件形貌（包含深孔/斜面/弧面）之特征尺寸量测，例如高度/段差/厚度/平面度/轮廓度等；
3、高温高压等严苛操作条件下亦能正常使用；
4、测头结构轻巧，易整合于各行业之自动化测量应用。
应用领域
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◆ 手机，平板，电脑等金属机壳机加制造业
◆ PCB板，连接器，IC芯片等电子业
◆ 面板，玻璃，钢化膜等行业
◆ 半导体晶圆，绿能，光伏等行业
产品案例
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产品参数
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