光谱共焦位移传感器，助力半导体晶圆精密检测！
普密斯PMS-8000SERIES光谱共焦位移传感器，是一款不受材质、工作形貌影响、超大测量角度的精度可达纳米级的非接触式位移传感器。在检测晶圆方面，能够利用镜面反射光进行测量，还可以通过调整3D视图对晶圆表面数据快速可视化，从而获得高质量的晶圆三维表面形貌数据，完成精密检测。...
定焦工业镜头在视觉定位应用中的优势
在工业检测领域，通过使用视觉定位，可以实现对工件的位置、尺寸、形状等参数的高精度测量和识别，从而确保产品的质量和精度。而在视觉定位应用中，定焦工业镜头扮演着至关重要的角色。...
技术方案
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