在现代电子制造业中，芯片和PCB（印刷电路板）是电子设备的核心部件。它们的表面质量直接影响着产品的性能和可靠性。然而，这些精密部件的表面结构复杂，传统的检测方法往往难以满足高精度、高效率的检测需求。近年来，一种名为“光谱共焦传感器”的技术异军突起，成为了芯片和PCB表面检测的利器。
光谱共焦传感器的工作原理可以简单理解为“用光来触摸物体”。它通过发射一束宽光谱的白光，经过透镜聚焦到被测物体表面。由于不同波长的光聚焦在不同高度，只有与被测表面高度匹配的波长才会被反射回来，通过分析反射光的波长，就可以精确计算出被测点的高度信息。
普密斯光谱共焦传感器SFS系列就是这一技术的典型代表。它拥有7款不同规格的光谱探头，可以适应不同尺寸和形状的检测需求。配合专用的光谱控制盒和测量软件，SFS系列能够快速扫描芯片和PCB表面，精确重建出被测物的三维轮廓。
在实际应用中，SFS系列光谱探头展现出了强大的性能：
1. 高精度：轴向分辨率可达纳米级，能够检测出芯片和PCB表面最细微的缺陷。
2. 高效率：非接触式测量，每秒可采集数万个数据点，大大提高了检测效率。
3. 强适应性：能够测量各种材料表面，包括金属、陶瓷、塑料等，适应复杂的生产环境。
4. 直观显示：测量软件可以实时显示三维形貌图，便于快速判断产品质量。
在芯片制造中，SFS系列可以用于检测晶圆表面的平整度、刻蚀深度等关键参数；在PCB生产中，它可以精确测量焊盘高度、线路宽度等，确保电路连接的可靠性。
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