在光谱共焦测量领域中，SFS-C8000控制器拥有卓越的性能参数和灵活的功能配置，其模块化设计和开放接口，为工业自动化提供了灵活的解决方案。
SFS-C8000光谱控制器展示
1. 双通道并行处理系统：采用双光纤通道设计，可同时驱动两个测头进行同步测量，突破传统单通道设备的效率瓶颈。配合 XYZ 光栅位移系统，实现 ±0.1μm 的定位精度，构建三维空间测量网络。
2. 智能运动控制模块：内置 1-2 路电机梯形加减速控制算法，支持扫点云测量模式，可实现每秒 5000 个采样点的高速数据采集。这种动态扫描能力，使其在复杂曲面测量中展现出独特优势。
3. 多物理量融合接口：配备模拟量输出通道，可无缝对接压电促动器等精密执行机构，构建闭环控制系统。其 0.1nm 分辨率的模拟信号输出，为纳米级精度控制提供了可靠保障。
SFS-C8000光谱控制器应用
1. 三维形貌测量系统：基于光谱共焦原理，可实现 0.1μm 垂直分辨率的 3D 表面形貌重建。通过自主研发的点云数据处理算法，能快速生成表面粗糙度、平面度等 26 项关键参数。
2. 非透明材料测厚技术：采用对射式测量架构，突破传统接触式测厚的局限性。可实现 0.5μm 厚度分辨率的多层结构厚度测量，特别适用于玻璃、陶瓷等透光率低的材料检测。
3. 多测头协同测量：通过独立双光纤通道，支持多测头同步工作。在汽车零部件检测中，可同时完成曲面轮廓和尺寸公差的复合测量，检测效率提升 40% 以上。
技术方案
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