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多测头线扫传感器测量解决方案

普密斯线激光位移传感器拥有先进的技术,可应用于高度、段差、平面度、共面度、轮廓度等检测

多测头线扫传感器测量解决方案

 

产品介紹

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普密斯线激光位移传感器拥有先进的技术,可应用于高度、段差、平面度、共面度、轮廓度等检测。

 

 

产品优势

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1、可同时搭配多个线扫传感器,通过3DOS测量系统控制,实现不同角度、不同状态多产品数据同步获取。

2、可快速获取多传感器点云数据进行整体处理,有效提高了产品复杂形状和结构的扫描和处理能力及效率。

3、满足产品的高度、段差、平面度、共面度、轮廓度等检测,亦可实现外观检测、表面特征追踪等功能。

 

 

应用领域

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① 3C领域:手机镜头框/中框检测、键盘高度检测、表面抛光检测等。

② 锂电领域:电池盒尺寸检测、电芯盖板外观缺陷检测等。

③ 半导体领域:电路板器件高度检测、连接器Pin脚平整度检测等。

④ 光伏领域:硅片尺寸检测、硅片划伤检测等。

⑤ 点胶焊接领域:胶路高度/体积检测、焊缝定位、虚焊/漏焊检测等。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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